功能类别 | 参数项目 | 具体说明 |
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相控阵扫描功能 | 基础扫描模式 | 支持线扫、扇扫,可根据检测工件的形状、检测需求灵活选择扫描方式 |
全聚焦成像技术 | 支持全矩阵采集全聚焦成像(FMC/TFM),成像精度高,可精准识别微小缺陷 | |
扩展检测功能 | TOFD 通道配置 | 可选配多组 TOFD 通道,专门适配中厚板焊缝检测场景,实现实时快速成像 |
校准模式 | 声速校准 | 用于测量检测材料的实际声速,为超声波检测的参数计算提供准确基础 |
延迟校准 | 校准后确保界面波处于起始位置,避免因信号延迟导致的检测位置偏差 | |
晶片有效性校准 | 检测相控阵探头各晶片的工作状态,筛选故障晶片,保障探头检测稳定性 | |
ACG 校准 | 针对不同偏转角度的超声波束进行幅度补偿,解决角度差异导致的信号幅度不均问题 | |
TCG 校准 | 对不同深度的缺陷信号进行幅度校准,使相同性质、大小的缺陷在不同深度显示幅度一致 |